關(guān)于高低溫試驗箱作用原則的相關(guān)介紹？

　　在做高低溫試驗箱環(huán)境試驗時，對所需試驗的樣品性能、試驗條件/試驗程序和試驗技術(shù)要熟悉，要對所使用的試驗設(shè)備的技術(shù)性能要熟悉，對設(shè)備的構(gòu)造要有所了解，尤其是對控制器的操作及性能要熟悉。接下來跟小編了解下高低溫試驗箱作用原理的相關(guān)介紹。

　　作用原理

　　環(huán)境應(yīng)力條件可以引起產(chǎn)品失效，技術(shù)資料明確地表示了失效與環(huán)境應(yīng)力之關(guān)。可見在各種應(yīng)力影響之中溫度和濕度環(huán)境應(yīng)力所引發(fā)地失效占所有環(huán)境應(yīng)力引發(fā)失效的60%左右，而溫度應(yīng)力與失效之間存在著密切的關(guān)系。

　　目前，在世界各地，無論從陸地到海洋或者從高空到宇宙空間，都廣泛地使用電子電工以及其他領(lǐng)域的產(chǎn)品。由于氣溫隨著高度的增加而降低或在冬季高緯度地區(qū)，或者有些產(chǎn)品所在位置接近制冷元件、設(shè)備或系統(tǒng)，或者有些產(chǎn)品本身就包括制冷元件、設(shè)備或系統(tǒng)，從而產(chǎn)生低溫環(huán)境。低溫幾乎對所有的材料都會產(chǎn)生不同程度的有害影響，構(gòu)成產(chǎn)品的各種材料的物理性能、電性能等將發(fā)生變化，導(dǎo)致暫時性性能下降，甚至引起失效

　　同樣，低緯度熱帶地區(qū)的自然高溫、太陽輻射的增溫、通風(fēng)不良引起的溫升以及散熱樣品在使用中自身發(fā)熱引起的溫升等產(chǎn)生的高溫，高溫會使電子組合可靠性下降，機械結(jié)構(gòu)的密封件、橡膠件和塑料件等受高溫和太陽照射作用會迅速老化和劣化，其他各種材料的結(jié)構(gòu)、物理性能、電性能也會發(fā)生很大的變化，導(dǎo)致暫時損傷和性能變化。

　　另外，在產(chǎn)品貯存、運輸、使用和安裝過程以及中，除自然氣候的變化以外，也會遇到因人類的社會實踐而誘發(fā)的環(huán)境溫度的變化。例如設(shè)備從溫度較高的室內(nèi)移到溫度相對較低的室外;或者從溫度相對較低的室外移到溫度較高的室內(nèi);或者在室外使用的設(shè)備在強烈的太陽輻射之后突然降雨或浸到冷水;或者溫度的極度升高導(dǎo)致焊錫回流現(xiàn)象出現(xiàn)，或者啟動馬達(dá)時周圍器件的溫度急速升高，關(guān)閉馬達(dá)時周圍器件會出現(xiàn)溫度驟然下降;或者設(shè)備可能在溫度較低地環(huán)境中連接到電源上，導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生陡峭的溫度梯度，在溫度較低地環(huán)境中切斷電源可能會導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生相反方向陡峭的溫度梯度;或者當(dāng)航空器起飛或者降落時，航空器機載外部器材可能會出現(xiàn)溫度地急劇變化等等。由于急劇的溫度變化將使產(chǎn)品受到一定熱沖擊力，在這種熱沖擊力的作用下，將導(dǎo)致電子電工元件的涂覆層脫落、密封材料龜裂甚至破碎、填充材料泄漏等，從而引起電子元器件電性能下降;對于由不同材料構(gòu)成的產(chǎn)品，由于溫度變化時產(chǎn)品受熱不均勻，導(dǎo)致產(chǎn)品變形、開裂、破碎等。由于溫度變化產(chǎn)生較大的溫差，低溫時產(chǎn)品表面會產(chǎn)生凝露或結(jié)霜，高溫時蒸發(fā)或融化，如此高低溫反復(fù)作用的結(jié)果導(dǎo)致和加速了產(chǎn)品的腐蝕。