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關(guān)于地面用晶體硅怎樣才算合格的判斷?

更新時間:2022-07-28  |  點(diǎn)擊率:683

      關(guān)于本試驗(yàn)的合格判斷:

      如果每一個試驗(yàn)樣品達(dá)到以下各項(xiàng)判斷,則認(rèn)為該組件設(shè)計通過了鑒定試驗(yàn),也通過了定型。

      A 在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下,組件的最大輸出功率的衰減在每個單項(xiàng)試驗(yàn)后不超過規(guī)定的極限,每一組試驗(yàn)          程序后不超過規(guī)定值的8%;

      B 在試驗(yàn)過程中,無組件呈現(xiàn)開路或接地故障現(xiàn)象;

      C 無第7章中定義的任何嚴(yán)重外觀缺陷;

      D 全部試驗(yàn)完以后,仍滿足絕緣測試要求;

      E 組件的扭曲試驗(yàn)從開始到結(jié)束貫串整個過程,并在濕-熱試驗(yàn)之后;

      F 個別試驗(yàn)會有一些特殊的要求。

      如果兩個或兩個以上組件達(dá)不到上述判據(jù),該設(shè)計將視為達(dá)不到鑒定要求。如果一個組件未通過任一項(xiàng)試驗(yàn),取另外兩個滿足第3章要求的組件從頭進(jìn)行全部相關(guān)試驗(yàn)程序的試驗(yàn)。假如其中的一個或兩個組件都未通過試驗(yàn),該設(shè)計被判定達(dá)不到鑒定要求。如果兩個組件都通過了試驗(yàn),則該試驗(yàn)被認(rèn)為達(dá)到鑒定要求。

      關(guān)于此實(shí)驗(yàn)的報告:

      通過定型之后,試驗(yàn)機(jī)根據(jù)ISO/IEC 17025電子元器件質(zhì)量評定體系程序給出鑒定實(shí)驗(yàn)報告證書,該證書應(yīng)包括測定的性能參數(shù),以及任何第一次試驗(yàn)未通過測試和重新試驗(yàn)的詳細(xì)情況。所有的證書或試驗(yàn)報告必須至少包含下列各項(xiàng)信息:

      A 證書或報告的名稱;

      B 測試實(shí)驗(yàn)室的名稱和地址,以及測試進(jìn)行的地點(diǎn);

      C 確認(rèn)證書或報告的每一業(yè)都有特別的序號;

      D 客戶的名稱和地址;

      E 對測試的項(xiàng)目進(jìn)行說明和確認(rèn);

      F 測試項(xiàng)目的性能參數(shù)和測試條件;

      G 測試開始的日期和測試進(jìn)行的日期;

      以上就是本章的上半部分,若想知道本章的下半部分,就請關(guān)注小編的另一篇文章哦!